|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray tomography assessment of the heat treatment effect on Nb3Sn wires with different architectures |
| Auteur: |
Sima, A. Lungu, M. Ionescu, A.M. Badica, P. Zani, L. Tiseanu, I. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 193 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 75 gevonden artikelen
| << vorige |