|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 74 van 77 gevonden artikelen
| Titel: |
Transient phase fraction and dislocation density estimation from in-situ X-ray diffraction data with a low signal-to-noise ratio using a Bayesian approach to the Rietveld analysis |
| Auteur: |
Wiessner, Manfred Angerer, Paul van der Zwaag, Sybrand Gamsjäger, Ernst |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 74 van 77 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |