|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 77 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of microstructure characterization methods by two-point correlation functions and reconstruction of 3D microstructures using 2D TEM images with high degree of phase clustering |
| Auteur: |
Kim, Se-Yun Kim, Ji-Su Lee, Jae Hun Kim, Jong Hak Han, Tong-Seok |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 77 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |