|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 86 gevonden artikelen
| Titel: |
Artifacts in multilayer depth profiling: Origin and quantification of a double peak layer profile of Ag in ToF-SIMS depth profiles of an Ag/Ni multilayer |
| Auteur: |
Hofmann, S. Yang, H. Kovač, J. Ekar, J. Song, Y.B. Wang, J.Y. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 171 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 86 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |