|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect analysis and 2D/3D-EBSD investigation of an electron beam melted Ti-6Al-4V alloy |
| Auteur: |
Ma, Jiang Tian, Jinsen Yan, Ming Chen, Zhuo Shen, Jun Wu, Jing |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 166 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |