|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM investigation of the role of the polycrystalline-silicon film/substrate interface in high quality radio frequency silicon substrates |
| Auteur: |
Ding, Lipeng Raskin, Jean-Pierre Lumbeeck, Gunnar Schryvers, Dominique Idrissi, Hosni |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 161 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |