|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Reference-free evaluation of thin films mass thickness and composition through energy dispersive X-ray spectroscopy |
| Auteur: |
Pazzaglia, Andrea Maffini, Alessandro Dellasega, David Lamperti, Alessio Passoni, Matteo |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 153 (2019) nr. C pagina's 92-102 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |