|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparison of He and Ne FIB imaging of cracks in microindented silicon nitride |
| Auteur: |
Baggott, A. Mazaheri, M. Zhou, Y. Zhang, H. Inkson, B.J. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 141 () nr. C pagina's 362-369 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |