|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Specimen preparation methods for elemental characterisation of grain boundaries and isolated dislocations in multicrystalline silicon using atom probe tomography |
| Auteur: |
Lotharukpong, C. Tweddle, D. Martin, T.L. Wu, M. Grovenor, C.R.M. Moody, M.P. Wilshaw, P.R. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 131 (2017) nr. C pagina's 472-479 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |