|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution transmission electron microscopy analysis of bulk nanograined silicon processed by high-pressure torsion |
| Auteur: |
Fukushima, Yuta Ikoma, Yoshifumi Edalati, Kaveh Chon, Bumsoo Smith, David J. Horita, Zenji |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 129 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |