|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of the morphology of primary silicon particles using synchrotron X-ray tomography |
| Auteur: |
Wang, J. Guo, Z. Xiong, S.M. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 123 (2017) nr. C pagina's 354-359 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |