|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 69 van 86 gevonden artikelen
| Titel: |
Stereology of backscatter electron images of etched surfaces for characterization of particle size distributions and volume fractions: Estimation of imaging bias via Monte Carlo simulations |
| Auteur: |
Payton, E.J. Mills, M.J. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 62 (2011) nr. 6 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 69 van 86 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |