|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
On the use of atomic force microscopy for structural mapping of metallic-glass thin films |
| Auteur: |
Zeng, J.F. Chu, J.P. Chen, Y.C. Volland, A. Blandin, J.J. Gravier, S. Yang, Y. |
| Verschenen in: |
Intermetallics |
| Paginering: | Jaargang 44 (2014) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |