|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect classification using PEC respones based on power spectral density analysis combined with EMD and EEMD |
| Auteur: |
Peng, Ying Qiu, Xuanbing Wei, Jilin Li, Chuanliang Cui, Xiaochao |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 78 (2016) nr. C pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
| volgende >> |