|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Microwave nondestructive detection of delamination in IC packages utilizing open-ended coaxial line sensor |
| Auteur: |
Ju, Y. Saka, M. Abé, H. |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 32 (1999) nr. 5 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |