|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 65 van 112 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of the residual stresses in the thin film by using reflection of the laser light beam (In Japanese: English Abstract) |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 31 (1998) nr. 2 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 65 van 112 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |