|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 47 van 194 gevonden artikelen
| Titel: |
Computed tomography inspection of electronic devices provides image data of electrical-mechanical density at comparison with model data |
| Auteur: |
Adv. Res. & Appl Corp, |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 25 (1992) nr. 4-5 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 47 van 194 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |