|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 156 gevonden artikelen
| Titel: |
A complex multi-layer neural network for defect detection and characterization |
| Auteur: |
Birx, D. Pipenberg, S. |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 25 (1992) nr. 1 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 156 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |