|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
An EMPECT-based defect localization method for multilayered structures using high-order statistical analysis and high-frequency component separation strategy |
| Auteur: |
Yang, Shuyan Zhang, Jizhou Fan, Siwei Lu, Guohang Yan, Shunping Fan, Zhigeng Wan, Qiang Zhang, Shuxin Li, Lifeng Chen, Zhenmao Xie, Shejuan |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 154 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |