|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Classification and evaluation for nearside/backside defect via magnetic flux leakage: A dual probe design with SVM and PSO intelligence algorithms |
| Auteur: |
Shi, Pengpeng Zhang, Pengcheng Hao, Shuai Wang, Wenshuai Gou, Xiaofan |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 144 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |