|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray detection of ceramic packaging chip solder defects based on improved YOLOv5 |
| Auteur: |
Li, Ke Xu, Linhai Su, Lei Gu, Jiefei Ji, Yong Wang, Gang Ming, Xuefei |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 143 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |