|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of small embedded two-dimensional defects using multi-view Total Focusing Method imaging algorithm |
| Auteur: |
Budyn, Nicolas Croxford, Anthony J. Bevan, Rhodri L.T. Zhang, Jie Wilcox, Paul D. |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 119 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |