|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
High frequency focused imaging for ultrasonic probe integrity inspection |
| Auteur: |
Svilainis, Linas Kybartas, Darius Aleksandrovas, Arturas Alvarez-Arenas, Tomas E.Gomez |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 116 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 45 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |