|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Fast reconstruction of 3-D defect profile from MFL signals using key physics-based parameters and SVM |
| Auteur: |
Piao, Guanyu Guo, Jingbo Hu, Tiehua Leung, Henry Deng, Yiming |
| Verschenen in: |
NDT and E international |
| Paginering: | Jaargang 103 (2019) nr. C pagina's 26-38 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |