|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault prognosis for batch production based on percentile measure and gamma process: Application to semiconductor manufacturing |
| Auteur: |
Nguyen, T.B. Lien Djeziri, Mohand Ananou, Bouchra Ouladsine, Mustapha Pinaton, Jacques |
| Verschenen in: |
Journal of process control |
| Paginering: | Jaargang 48 (2016) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |