|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
An integrated advanced process control framework using run-to-run control, virtual metrology and fault detection |
| Auteur: |
Fan, Shu-Kai S. Chang, Yuan-Jung |
| Verschenen in: |
Journal of process control |
| Paginering: | Jaargang 23 (2013) nr. 7 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |