|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 50 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface percolation and random trap generation in ferroelectric memory: A two-step degradation mechanism explored through low-frequency noise spectroscopy |
| Auteur: |
Koo, Ryun-Han Shin, Wonjun Im, Jiseong Kim, Seungwhan Ryu, Sangwoo Jung, Gyuweon Kim, Jangsaeng Park, Sung-Ho Choi, Kangwook Ko, Jonghyun Lee, Sung-Tae Kwon, Daewoong Lee, Jong-Ho |
| Verschenen in: |
Chaos, solitons & fractals |
| Paginering: | Jaargang 199 () nr. P2 pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 50 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |