|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 146 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative analysis of low-frequency noise based resistive switching phenomenon for filamentary and interfacial RRAM devices |
| Auteur: |
Lee, Jung-Kyu Kim, Sungjun |
| Verschenen in: |
Chaos, solitons & fractals |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 146 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |