|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
A review of atomic force microscopy imaging systems: application to molecular metrology and biological sciences |
| Auteur: |
Jalili, Nader Laxminarayana, Karthik |
| Verschenen in: |
Mechatronics |
| Paginering: | Jaargang 14 (2004) nr. 8 pagina's 39 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 5 gevonden artikelen
| volgende >> |