|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Laser-assisted atom probe tomography of Ti/TiN films deposited on Si |
| Auteur: |
Sanford, N.A. Blanchard, P.T. White, R. Vissers, M.R. Diercks, D.R. Davydov, A.V. Pappas, D.P. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 94 (2017) nr. C pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |