|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Mechanism of electron multiplication due to charging for a SiO2 sample with a buried microstructure in SEM: A simulation analysis |
| Auteur: |
Wang, Fang Feng, Guobao Zhang, Xiusheng Cao, Meng |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 90 (2016) nr. C pagina's 64-70 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |