|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative characterization of the interface roughness of (GaIn)As quantum wells by high resolution STEM |
| Auteur: |
Han, H. Beyer, A. Jandieri, K. Gries, K.I. Duschek, L. Stolz, W. Volz, K. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 79 (2015) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |