|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A study of threshold switching of NbO2 using atom probe tomography and transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Lee, J.H. Cha, E.J. Kim, Y.T. Chae, B.K. Kim, J.J. Lee, S.Y. Hwang, H.S. Park, C.G. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 79 (2015) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |