|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM based high resolution and low-dose scanning electron nanodiffraction technique for nanostructure imaging and analysis |
| Auteur: |
Kim, Kyou-Hyun Xing, Hui Zuo, Jian-Min Zhang, Peng Wang, Haifeng |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 71 (2015) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |