|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Damage behavior and atomic migration in MgAl2O4 under an 80keV scanning focused probe in a STEM |
| Auteur: |
Zhu, Guo-zhen Botton, Gianluigi A. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 68 (2015) nr. C pagina's 141-145 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |