|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Advanced fabrication process for combined atomic force-scanning electrochemical microscopy (AFM-SECM) probes |
| Auteur: |
Eifert, Alexander Mizaikoff, Boris Kranz, Christine |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 68 (2015) nr. C pagina's 27-35 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |