|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Localization microscopy (SPDM) facilitates high precision control of lithographically produced nanostructures |
| Auteur: |
Grab, A.L. Hagmann, M. Dahint, R. Cremer, C. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 68 (2015) nr. C pagina's 1-7 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |