|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep sub micrometer imaging of defects in copper pillars by X-ray tomography in a SEM |
| Auteur: |
Laloum, D. Lorut, F. Bertheau, J. Audoit, G. Bleuet, P. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 58 (2014) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |