|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Sample preparation by focused ion beam micromachining for transmission electron microscopy imaging in front-view |
| Auteur: |
Jublot, Michael Texier, Michael |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 56 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |