|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 206 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of complex dielectric functions at HfO2/Si interface by using STEM-VEELS |
| Auteur: |
Park, Jucheol Yang, Mino |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 40 (2009) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 206 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |