|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A new approach to reach the best resolution of X-ray microanalysis in the variable pressure SEM |
| Auteur: |
Zoukel, A. Khouchaf, L. Arnoult, C. Di Martino, J. Ruch, D. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 46 (2013) nr. C pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |