|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental study of annular bright field (ABF) imaging using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy (STEM) |
| Auteur: |
Okunishi, Eiji Sawada, Hidetaka Kondo, Yukihito |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 43 (2012) nr. 4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |