|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of InAs/GaAs short period superlattices using column ratio mapping in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Robb, Paul D. Finnie, Michael Craven, Alan J. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 43 (2012) nr. 10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| volgende >> |