|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Thin film piezoelectric response characterisation using atomic force microscopy with standard contact mode imaging |
| Auteur: |
Sriram, S. Bhaskaran, M. Short, K.T. Matthews, G.I. Holland, A.S. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 40 (2009) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 34 gevonden artikelen
| << vorige |