|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural investigation of nickel silicide thin films and the silicide–silicon interface using transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Bhaskaran, M. Sriram, S. Mitchell, D.R.G. Short, K.T. Holland, A.S. Mitchell, A. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 40 (2009) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |