|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Focused ion beam preparation of atom probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary |
| Auteur: |
Pérez-Willard, Fabián Wolde-Giorgis, Daniel Al-Kassab, Talaát López, Gabriel A. Mittemeijer, Eric J. Kirchheim, Reiner Gerthsen, Dagmar |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 39 (2008) nr. 1 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |