|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram |
| Auteur: |
Du, K. Wang, Y.M. Lichte, H. Ye, H.Q. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 37 (2006) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |