|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Width determination of SiO2-films in Si-based devices using low-loss EFTEM: image contrast as a function of sample thickness |
| Auteur: |
Schaffer, Bernhard Grogger, Werner Hofer, Ferdinand |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 34 (2003) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 10 gevonden artikelen
| << vorige |