|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A tilting procedure to enhance compositional contrast and reduce residual diffraction contrast in energy-filtered TEM imaging of planar interfaces |
| Auteur: |
Moore, K.T. Stach, E.A. Howe, J.M. Elbert, D.C. Veblen, D.R. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 33 (2002) nr. 1 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |