|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM/CBED determination of strain in silicon-based submicrometric electronic devices |
| Auteur: |
Armigliato, A Balboni, R Balboni, S Frabboni, S Tixier, A Carnevale, G.P Colpani, P Pavia, G Marmiroli, A |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 31 (2000) nr. 3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |